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熱門關(guān)鍵詞： 測角儀，應(yīng)力雙折射，折射率，薄膜弱吸收，反射率，GDD檢測設(shè)備，波片相位延遲，剪切
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激光測量激光功率計能量計應(yīng)力儀穆勒矩陣測量系統(tǒng)測厚儀測角儀散射儀弱吸收儀光學(xué)表面質(zhì)量檢測系統(tǒng)CRD高反射率測量儀光學(xué)測量精密光機(jī)系統(tǒng)激光器光電器件
ENTERPRISE ADVANTAGE
選擇我們就是選擇高品質(zhì)，我們是您的信賴之選！
非接觸式、非破壞性，實時在線測量或離線測量
可單次測量多層膜，可測20層
探針靈活配置，實現(xiàn)多個不同目標(biāo)測量
測試速度快，適用范圍廣
關(guān)于我們
ABOUT US
北京昊然偉業(yè)光電科技有限公司成立于2010年，專業(yè)代理歐美（德國、瑞士、美國、波蘭等）高精度的光學(xué)檢測設(shè)備，致力于為科研和工業(yè)客戶提供光學(xué)檢測解決方案及包括售前、售中及售后在內(nèi)的服務(wù)。主要包括：光學(xué)檢測產(chǎn)品：應(yīng)力雙折射、折射率、弱吸收、反射率、散射等測量系統(tǒng)/剪切干涉儀/非接觸式測厚儀/測角儀/可調(diào)相位延遲波片等；激光檢測產(chǎn)品：激光功率計、能量計及光束質(zhì)量分析儀等；集成系統(tǒng)所需的激光器、步進(jìn)位移平臺、偏振光轉(zhuǎn)換器等顯微系統(tǒng)所需的XYZ電動載物臺、波片進(jìn)片機(jī)、高速相機(jī)ICCD、像增強(qiáng)器300ps門...
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TCEHNICAL SUPPORT
光束質(zhì)量分析儀基本的工作原理是通過對光束橫截面上的光強(qiáng)分布進(jìn)行測量和分析。當(dāng)光束照射到分析儀的探測器表面時，探測器上的每個像素點(diǎn)會接收到不同強(qiáng)度的光信號，并將這...
9-23
Gentec-EO激光功率計的核心在于準(zhǔn)確控制測量條件、規(guī)范操作流程以及定期維護(hù)校準(zhǔn)。通過上述步驟和注意事項，可保證測量的準(zhǔn)確性和設(shè)備壽命。1.準(zhǔn)備工作：確保設(shè)備處于良好的工作環(huán)境，溫度為室溫(約25℃)。檢查儀器各部件是否完好，連接是否正常。初次使用時，需先測定0輸入對應(yīng)的功率值作為校準(zhǔn)基準(zhǔn)。2.對準(zhǔn)光路：將激光源發(fā)出的光束準(zhǔn)確對準(zhǔn)探頭的光輸入窗口。此時應(yīng)調(diào)整光斑大小，使其占有效測量區(qū)域的40~80，以保證測量精度。例如，若探頭的有效感應(yīng)面積較大，則需通過光學(xué)元件或機(jī)械裝置...
9-18
穆勒矩陣測量系統(tǒng)的定標(biāo)是確保系統(tǒng)準(zhǔn)確獲取光學(xué)信息的關(guān)鍵步驟，其核心在于通過已知光學(xué)特性的標(biāo)準(zhǔn)樣品，對系統(tǒng)參數(shù)進(jìn)行精確調(diào)整與校準(zhǔn)，以下為詳細(xì)介紹：一、定標(biāo)原理穆勒矩陣是描述材料對偏振光變換作用的四維矩陣，每行對應(yīng)入射偏振態(tài)，每列對應(yīng)出射偏振態(tài)，16個元素共同構(gòu)成材料的光學(xué)指紋。定標(biāo)過程即通過標(biāo)準(zhǔn)樣品，確定系統(tǒng)各偏振參數(shù)（如補(bǔ)償器相位延遲量、起偏器和檢偏器方位角等），使系統(tǒng)能夠準(zhǔn)確獲取樣品的穆勒矩陣。二、定標(biāo)步驟準(zhǔn)備標(biāo)準(zhǔn)樣品：選擇具有已知光學(xué)特性的標(biāo)準(zhǔn)樣品，如具有明確偏振特性的晶...
9-9
Gentec-EO激光功率計的核心在于熱效應(yīng)探測器的使用。激光探頭表面涂有特殊的熱電材料作為吸收體，當(dāng)激光照射時，大部分光能被該材料吸收并轉(zhuǎn)化為熱量，僅有少量反射。這種高吸收率的設(shè)計確保了測量的準(zhǔn)確性基礎(chǔ)。吸收體兩端因受熱不均形成溫度梯度，進(jìn)而在兩端之間產(chǎn)生電壓差。這一過程利用了塞貝克效應(yīng)(Seebeckeffect)，即不同溫度下的導(dǎo)體或半導(dǎo)體會產(chǎn)生電動勢的現(xiàn)象。產(chǎn)生的微弱電壓信號隨后由配套的電路進(jìn)行放大和處理。內(nèi)置的高精度測量電路負(fù)責(zé)接收這些模擬信號，并將其轉(zhuǎn)換為數(shù)字形式...
新聞中心
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摘要激光技術(shù)在科研、工業(yè)制造、醫(yī)療等眾多領(lǐng)域有著廣泛的應(yīng)用。為了確保激光設(shè)備的性能和安全性，準(zhǔn)確地測量激光輸出功率顯得尤為重要。本文將詳細(xì)介紹激光功率計的工作原...
8-25
在我們?nèi)粘Ｉ钪校坨R、相機(jī)鏡頭、顯微鏡、望遠(yuǎn)鏡等都離不開光學(xué)玻璃。這些玻璃不僅要透明，還要具備高的光學(xué)均勻性。然而，即使外觀無瑕的玻璃，內(nèi)部也可能隱藏著“壓力”——這就是所謂的“殘余應(yīng)力”。這種應(yīng)力雖看不見，卻會嚴(yán)重影響光學(xué)性能，因此必須進(jìn)行精確測量和控制。本文將帶您了解光學(xué)玻璃應(yīng)力測量的基本知識。什么是光學(xué)玻璃中的應(yīng)力？光學(xué)玻璃在制造過程中(如熔煉、成型、退火等)，由于溫度變化不均勻或外部約束，內(nèi)部會產(chǎn)生不均勻的分子排列，導(dǎo)致部分區(qū)域被拉伸或壓縮，形成“殘余應(yīng)力”。這種應(yīng)...
6-18
當(dāng)光進(jìn)入Lumetrics測厚儀的干涉儀后，輸入光被等比例分束成為兩束光。這兩束光頻率相同、振動方向相同，但具有穩(wěn)定的相位差，并沿不同光路傳播。在輸出端重新匯合疊加時，會出現(xiàn)光的干涉現(xiàn)象。光強(qiáng)在疊加區(qū)域內(nèi)不是均勻分布，而是在數(shù)值之間逐點(diǎn)變化，可能超過兩光束之和，小值可能是零。通過分析這種干涉條紋的變化，可以準(zhǔn)確地測量出被測物體的厚度。Lumetrics測厚儀優(yōu)點(diǎn)：-非接觸式測量：它不需要與被測物體直接接觸，避免了傳統(tǒng)接觸式測量可能對物體表面造成的劃傷、磨損等損害，尤其適用于測...
5-8
激光測厚儀是一種基于激光技術(shù)的高精度非接觸式測量設(shè)備，通過發(fā)射激光束并捕捉反射信號，實現(xiàn)對材料厚度的實時、動態(tài)監(jiān)測。其核心優(yōu)勢在于突破傳統(tǒng)接觸式測量的局限，以微米級精度滿足現(xiàn)代工業(yè)對品質(zhì)控制的嚴(yán)苛需求，成為航空航天、汽車制造、新能源等領(lǐng)域的核心檢測工具。一、技術(shù)原理：雙傳感器對射與三角測距的精密融合激光測厚儀的核心技術(shù)可分為兩大體系：雙激光位移傳感器對射法與三角測距原理。雙傳感器對射法：設(shè)備上下各配置一臺激光位移傳感器，分別測量被測物體上表面與下表面的空間坐標(biāo)。通過計算兩傳感...
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